日本YAMADA檢測燈山田光學YP-250I原理

YAMADA山田光學 檢測燈 YP-250I

高亮度鹵素光源

該照明裝置可檢測各種缺陷如半導體(ti) 晶片芯片和液晶基板的劃痕，不均勻拋光，霧度，表麵灰塵，滑移等可照明樣品表麵範圍為(wei) 400,000Lux以上，是一種用於(yu) 宏觀觀察的照明裝置。半導體(ti) 行業(ye) ，液晶麵板行業(ye) 等都適用

總結

1.樣品表麵可照亮400，000Lx以上。

2.采用鹵素燈作為(wei) 光源，因此色溫高，照明不均勻度小，照明
非常穩定銳利。

3.使用冷鏡的散熱效果
極低，是傳(chuan) 統鋁鏡的1/3。

4.兩(liang) 級切換機製
，隻需輕輕一按即可在高照度觀察和低照度觀察之間切換。
YP-2I・・・照度範圍φ150 YP-30I・照度範圍φ250
（
YP-60I可在螺旋槳風扇型和風管風扇型之間進行選擇。 ）