| 品牌 | SANKO/日本三高 | 供貨周期 | 現貨 |
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| 應用領域 | 化工,電子/電池,綜合 | | |
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日本SANKO三高膜厚儀(yi) 探頭
具有自動（智能）設置的新型雙探頭FN-325為(wei) 您提供了簡單易用的操作：探頭FN-325可與(yu) SWT-7000 III.係列（7000III.、7100III.、7200III.）一起使用，用於(yu) 測量Fe和NFe金屬基材。
日本SANKO三高膜厚儀(yi) 探頭
規範
可選的SWT探頭是可互換的。
◆ 雙型：FN-325※ ◆ 鐵質：鐵型
◆ 有色金屬用：NFe型
※新型FN-325不能與SWT-7000、SWT-7000II一起使用。 係列，但僅與 SWT-7000III.sereis 一起使用。
探頭類型
雙FN-325（SWT-7000III.係列專用）
測量範圍
鐵質：0~3.00mm 有色金屬：0~2.50mm
顯示分辨率
1μm：0~999μm 通過開關，0.1μm：0~400μm，0.5μm：400~500μm，0.01mm
：（鐵質1.00~3.00mm），（有色金屬1.00~2.50mm）
精度（垂直放置探頭
黑色金屬和有色金屬兩用
0~100μm：±1μm或±2%讀數值（含鐵） 101μm~3.00mm：±2%（有色金屬）
101μm~2.50mm：±2%
探針
單點接觸恒壓型，
帶V型切割φ13×52mm，72g
選擇
V型探頭適配器（Φ3、Φ5~5、Φ10~10種）
輔料
校準標準（塑料箔）
零板（黑色金屬、有色金屬雙）
測量目標
Fe基材：鐵、鋼等磁性金屬的塗層、襯裏、熱噴塗、電鍍（電解液鍍鎳除外）
NFe基材：鋁、銅等非磁性金屬上的絕緣膜
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